便攜式厚度測試儀-日本電測densoku便攜式膜厚計QNIx系列

發(fā)布時間：2020-08-14　點(diǎn)擊量：1464

日本電測densoku便攜式膜厚計QNIx系列

一種便攜式膜厚計，可以容易地提高麻煩的膜厚測量的生產(chǎn)效率部署安排。

QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量膜厚競爭激烈，而無需攜帶厚膜厚計。
無線測量無需電纜效果。它有助于將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€人計算機(jī)學習，也有助于防止測量過程中掉落事故。

無需校準(zhǔn)薄膜即可進(jìn)行精que的薄膜厚度測量

提供出廠時輸入的16點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)改善。這樣就無需進(jìn)行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進(jìn)行精que的薄膜厚度測量。

膜厚測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

在傳統(tǒng)的測量儀器中推廣開來，測量儀器通過電纜連接到個人計算機(jī)以傳輸測量數(shù)據(jù)空白區。QNIx系列使用“無線加mi狗”，只需將其插入USB端口即可進(jìn)行傳輸密度增加。您可以更快應用優勢，更輕松地瀏覽測量數(shù)據(jù)。

超輕便的無線測量儀

探頭測得的數(shù)據(jù)被無線發(fā)送到主機(jī)是目前主流。也減少了被電纜夾住或像常規(guī)產(chǎn)品一樣妨礙并導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險分享。此外，該探頭重30克增多，非常輕巧啟用，因此您無需攜帶笨重的儀器。

一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針估算。

QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍活動上，耐用性提高了30％。即使在極少數(shù)的故障情況下深入各系統，拆卸和維修也很容易大型，因此可以縮短維修時間。此外，它配備了紅寶石芯片不可缺少，因此您可以安全地測量樣品而不會損壞它系列。

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx Carcheck系統(tǒng)	QNIx方便
可測量的電影	[F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導(dǎo)電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層			[FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導(dǎo)電涂層	[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導(dǎo)電膜厚度
材料識別	黑色金屬和有色金屬的自動識別和交換	黑色金屬和有色金屬的自動識別和交換	用戶的轉(zhuǎn)換	黑色金屬和有色金屬的自動識別和交換	鐵/有色金屬自動識別模式轉(zhuǎn)換
測量原理	[F]磁通量（霍爾效應(yīng)） [N]渦流
測量范圍	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0至3,000μm	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0?5,000微米	0?500微米
gao 分辨率	0.1μm，1μm [M] 0.01μm	1微米	0.1微米	0.1微米服務為一體，1微米	5微米
配置格式	0點(diǎn)校正用戶校準(zhǔn)：1 [M] 100	0點(diǎn)校正	0點(diǎn)校正	沒有校準(zhǔn)功能	沒有校準(zhǔn)功能
準(zhǔn)確性	±（1μm+ 2％） ±3.5％（2mm以上） [T] ± （0.3μm+ 2％）	±（2μm+ 3％）	±（1μm+ 3％）	±（1μm+ 2％） ±3.5％（2mm以上）	±（10微米+ 5％）
測量速度	1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘）	600ms （約70次/分鐘）	1,300ms （約46次/分鐘）	1,500ms （約40次/分鐘）	600ms （約100次/分鐘）

便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南

[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量

[N]有色金屬材料的非導(dǎo)電膜厚度測量

[FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬的厚度

[T]微型探針

[M]測量數(shù)據(jù)存儲功能方案，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C