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日本電測(cè)densoku便攜式膜厚計(jì)QNIx系列
一種便攜式膜厚計(jì)增幅最大，可以容易地提高麻煩的膜厚測(cè)量的生產(chǎn)效率。
QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測(cè)量膜厚服務水平，而無(wú)需攜帶厚膜厚計(jì)最新。
無(wú)線(xiàn)測(cè)量無(wú)需電纜。它有助于將測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)處理方法，也有助于防止測(cè)量過(guò)程中掉落事故重要作用。
無(wú)需校準(zhǔn)薄膜即可進(jìn)行精que的薄膜厚度測(cè)量
提供出廠(chǎng)時(shí)輸入的16點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。這樣就無(wú)需進(jìn)行麻煩的薄膜打樣工作習慣，并且可以進(jìn)行精que的薄膜厚度測(cè)量有望。
膜厚測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)
在傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器中，測(cè)量?jī)x器通過(guò)電纜連接到個(gè)人計(jì)算機(jī)以傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)導向作用。QNIx系列使用“無(wú)線(xiàn)加mi狗”，只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸應用的選擇。您可以更快十大行動，更輕松地瀏覽測(cè)量數(shù)據(jù)。
超輕便的無(wú)線(xiàn)測(cè)量?jī)x
探頭測(cè)得的數(shù)據(jù)被無(wú)線(xiàn)發(fā)送到主機(jī)背景下。也減少了被電纜夾住或像常規(guī)產(chǎn)品一樣妨礙并導(dǎo)致墜落事故的風(fēng)險(xiǎn)綜合措施。此外，該探頭重30克自然條件，非常輕巧設計標準，因此您無(wú)需攜帶笨重的儀器。
一種不易折斷且不會(huì)在測(cè)量對(duì)象上留下痕跡的探針互動互補。
QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍發揮重要帶動作用，耐用性提高了30％。即使在極少數(shù)的故障情況下意料之外，拆卸和維修也很容易文化價值，因此可以縮短維修時(shí)間形式。此外，它配備了紅寶石芯片不斷完善，因此您可以安全地測(cè)量樣品而不會(huì)損壞它數字化。
| QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系統(tǒng) | QNIx方便 | |
| 可測(cè)量的電影 | [F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導(dǎo)電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導(dǎo)電涂層 | [FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導(dǎo)電涂層 | [FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導(dǎo)電膜厚度 | ||
| 材料識(shí)別 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別和交換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別和交換 | 用戶(hù)的轉(zhuǎn)換 | 黑色金屬和有色金屬的 自動(dòng)識(shí)別和交換 | 鐵/有色金屬自動(dòng)識(shí)別模式轉(zhuǎn)換 |
| 測(cè)量原理 | [F]磁通量（霍爾效應(yīng)） [N]渦流 | ||||
| 測(cè)量范圍 | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0至3,000μm | 0至2,000μm （可選：5,000μm） | 0?5,000微米 | 0?500微米 |
| gao 分辨率 | 0.1μm，1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米基礎上，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0點(diǎn)校正 用戶(hù)校準(zhǔn)：1 [M] 100 | 0點(diǎn)校正 | 0點(diǎn)校正 | 沒(méi)有校準(zhǔn)功能 | 沒(méi)有校準(zhǔn)功能 |
| 準(zhǔn)確性 | ±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上） [T] ± （0.3μm+ 2％） | ±（2μm+ 3％） | ±（1μm+ 3％） | ±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上） | ±（10微米+ 5％） |
| 測(cè)量速度 | 1,500ms （約40次/分鐘） [T] 920ms （約65次/分鐘） [R] 1,600ms （約37次/分鐘） | 600ms （約70次/分鐘） | 1,300ms （約46次/分鐘） | 1,500ms （約40次/分鐘） | 600ms （約100次/分鐘） |
便攜式薄膜測(cè)厚儀的型號(hào)代碼指南
[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測(cè)量
[N]有色金屬材料的非導(dǎo)電膜厚度測(cè)量
[FN]用一根探針測(cè)量黑色金屬和有色金屬的厚度
[T]微型探針
[M]測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能各領域，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C
