薄膜和微小區(qū)域的熱導(dǎo)率如何進(jìn)行測(cè)量深刻內涵?-日本hrd-thermal熱顯微鏡TM3

用于測(cè)量薄膜和微小區(qū)域的熱導(dǎo)率
特性
- 熱物理性質(zhì)顯微鏡是測(cè)量熱滲透率的裝置,熱滲透率是熱物理性質(zhì)值之一融合。
- 它是一種可以通過點(diǎn)深入闡釋,線和表面來測(cè)量樣品的熱性能的設(shè)備。
- 也可以測(cè)量微米級(jí)的熱物理性質(zhì)值的分布完成的事情,這在常規(guī)熱物理性質(zhì)測(cè)量設(shè)備中被認(rèn)為是困難的物聯與互聯。
- 它是*yi款能夠進(jìn)行非接觸式高分辨率熱性能測(cè)量的設(shè)備。
- 利用檢測(cè)到的3μm的光斑直徑協同控製,可以在高分辨率的微小區(qū)域中測(cè)量熱物理性質(zhì)(點(diǎn)/線/表面測(cè)量)振奮起來。
- 由于可以通過改變深度范圍進(jìn)行測(cè)量,因此可以測(cè)量從薄膜/多層膜到塊狀材料利用好。
- 您也可以測(cè)量基材上的樣品深入各系統。
- 激光非接觸式測(cè)量。
- 可以檢測(cè)薄膜下的裂縫系列,空隙和剝離作用。
熱物理顯微鏡的測(cè)量原理(概述)
在樣品上形成金屬薄膜,并用加熱激光器定期加熱慢體驗。
- 由于金屬的反射率具有根據(jù)表面溫度而變化的性質(zhì)(熱解法)著力增加,因此通過捕捉與加熱激光器同軸地照射的檢測(cè)激光器的反射強(qiáng)度的變化,來測(cè)量表面的相對(duì)溫度變化科技實力。去做處理。
- 熱量從金屬薄膜傳播到樣品,導(dǎo)致表面溫度響應(yīng)的相位延遲勃勃生機。該相位延遲取決于樣品的熱性質(zhì)助力各業。通過測(cè)量加熱光和檢測(cè)光之間的相位延遲來獲得熱滲透率。

主要規(guī)格
名稱/產(chǎn)品名稱 | 熱物理顯微鏡/熱顯微鏡 |
測(cè)量方式 | 熱物理性質(zhì)分布測(cè)量(1維提供有力支撐,2維應用,1點(diǎn)) |
測(cè)量項(xiàng)目 | 熱滲透率,(熱擴(kuò)散率)品率,(熱導(dǎo)率) |
檢測(cè)光斑直徑 | 約3μm |
1點(diǎn)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間 | 10秒 |
待測(cè)薄膜 | 厚度從幾百納米到幾十微米 |
重復(fù)精度 | 耐熱玻璃相貫通,硅的熱滲透率小于±10% |
樣品 | 1.樣品架30mm x 30mm厚度5mm 2.板狀樣品30mm x 30mm以內(nèi),厚度3mm以內(nèi) - 需要對(duì)樣品表面進(jìn)行鏡面拋光。
- 樣品表面需要進(jìn)行Mo濺射自動化方案。
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工作溫度極限 | 24°C±1°C(根據(jù)設(shè)備中內(nèi)置的溫度傳感器) |
平臺(tái)移動(dòng)距離 | ? X軸方向20mm ? Y軸方向20mm ? Z軸方向10mm |
加熱激光 | 半導(dǎo)體激光波長(zhǎng):808nm |
檢測(cè)激光 | 半導(dǎo)體激光波長(zhǎng):658nm |
電源 | 交流100V 1.5kVA |
標(biāo)準(zhǔn)配件 | 樣品架緊密協作,參考樣品 |
選項(xiàng) | 光學(xué)壓盤,空調(diào)線上線下,空調(diào)房發揮重要作用,飛濺裝置 |