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用于檢查硅片的表面光潔度-日本horiba高光澤度檢查儀IG-410

高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型,可方便地進(jìn)行現(xiàn)場工作大型,并且只需將與顯示單元分開的測量單元應(yīng)用于被攝體即可進(jìn)行測量服務效率。使用近紅外線作為光源,并測量了1000的光澤度(鏡面反射率100%)增持能力。
無需預(yù)熱共同努力。對(duì)于需要高表面光澤度的產(chǎn)品(例如用于汽車前燈的照明反光器,用于復(fù)印機(jī)的反光器和硅片)的質(zhì)量控制而言追求卓越,它是理想的選擇逐漸完善。
*由于光澤度是通過光的反射來測量的銘記囑托,因此測量點(diǎn)必須平坦。
| 光學(xué)系統(tǒng) | 入射角60°-接收角60° | 
| 測量面積 | 3 x 6毫米橢圓 | 
| 光源 | LED(波長890nm) | 
| 受光部 | SPD(硅光電二極管) | 
| 測量范圍 | 100范圍: | 
| 重復(fù)性 | 滿量程的±1% | 
| 電源供應(yīng) | AA干電池x 4 | 
| 電池壽命 | 200小時(shí)以上(使用堿性干電池) | 
| 工作溫度極限 | 10-40℃ | 
| 尺寸 | 機(jī)身:75W x 34D x 140H mm | 
| 大眾 | 約350g(帶內(nèi)置電池) | 
| 其他功能 | 自動(dòng)校準(zhǔn)自動化裝置,自動(dòng)關(guān)機(jī) | 
| 配件 | 用于100和1000量程的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)板 |