日本yamabun新款適用于軟薄膜和薄膜的測厚儀TOF-C2

模型	TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號
測量方法	非接觸式/電容式
測量對象	薄膜完善好、粘性保護(hù)膜促進進步、易附著灰塵的薄膜
測量原理	電容式

產(chǎn)品特點

• 高測量分辨率

• 由于是非接觸型，因此非常適合接觸型難以測量的薄膜全過程。

• 即使表面狀況粗糙更高要求，也可以進(jìn)行測量。

• 基重測量

• 操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）

產(chǎn)品規(guī)格