日本標準型薄膜測試儀連續(xù)測厚機FT-A200/FT-A200R介紹

發(fā)布時間：2022-03-25　點擊量：1453

日本標準型薄膜測試儀連續(xù)測厚機FT-A200/FT-A200R介紹

薄膜測厚儀近年來，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀發展目標奮鬥、薄膜厚度儀等技術先進，薄膜測厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片延伸、隔膜認為、紙張、箔片新趨勢、硅片等各種材料的厚度精確測量反應能力。

薄膜測厚儀根據(jù)其測量方式的不同，可分為：

接觸式薄膜測厚儀：點接觸式學習，面接觸式結構重塑。

非接觸式薄膜測厚儀：射線，渦流應用優勢，超聲波高質量發展，紅外等

注：我們所能見到的包裝材料實驗室厚度測試的標準，包括國家標淮高效節能，國際影響力範圍、美國深刻認識、日本、歐洲標準等均規(guī)定采用機械式測厚中的面接觸測厚的方式應用提升，同時該方法也被作為薄膜主動性，鋁箔，紙張等材料的仲裁方法發展的關鍵。

配備高精度測量頭和放大器單元的機器道路。
只需設置從生產(chǎn)線切出的薄膜，即可輕松連續(xù)測量厚度真諦所在。

FT-A200 測量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測量分辨率/ 0.01 μm