薄膜材料不均勻光斑檢測(cè)技術(shù)

材料檢測(cè)裝置M-CAP V2是充分利用圖像處理技術(shù)開(kāi)發(fā)的平原地面外觀檢測(cè)裝置解決方案。在保持傳統(tǒng)易用性的同時(shí)趨勢，實(shí)現(xiàn)了更高的速度和更高的分辨率不難發現。除了檢測(cè)針孔、異物污染和污垢附著等小缺陷外設備製造，我們不會(huì)忽略薄膜材料上的不均勻空間載體、條紋和劃痕等難以區(qū)分的缺陷。

特征

• 無(wú)論安裝位置如何相對簡便，都可以靈活布局
  取消了一體機(jī)的主體控制面板重要組成部分，由各功能的組件構(gòu)成。
  它提高了安裝的自由度合作，有助于有效利用工廠空間勃勃生機。

• 追求用戶友好的易用性
  采用液晶顯示器和易于使用的對(duì)話方式，操作簡(jiǎn)單極致用戶體驗。

• 更新成像系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)高速和高分辨率通過(guò)
  采用新開(kāi)發(fā)的數(shù)碼相機(jī)提供有力支撐，實(shí)現(xiàn)了高速傳輸過(guò)程中清晰的圖像和微小缺陷的檢測(cè)。

• 標(biāo)配
  原裝 LED 照明燈 采用實(shí)現(xiàn)高亮度和高顯色性的 LED 照明燈建議。
  也可以選擇魚(yú)眼（凝膠）和黑點(diǎn)品率，由于特殊的結(jié)構(gòu)很難判斷。

• 即使
  放大有缺陷的圖像也能清晰顯示通過(guò)利用人工智能的超分辨率技術(shù)不斷發展，即使放大和顯示有缺陷的圖像積極影響，圖像也不會(huì)變得粗糙。

• 通過(guò)廣泛的數(shù)據(jù)管理進(jìn)行有效的質(zhì)量控制
  可以實(shí)時(shí)匯總每列和距離的缺陷數(shù)量緊密協作，并且可以將數(shù)據(jù)輸出為 PDF 文件越來越重要。
  它還通過(guò)網(wǎng)絡(luò)支持?jǐn)?shù)據(jù)管理功能，有助于提高質(zhì)量控制效率和生產(chǎn)力發揮重要作用。

• 檢查功能的顯著擴(kuò)展
  通過(guò)同時(shí)檢查多達(dá) 5 個(gè)電路工藝醒悟，大大提高了檢查性能。
  線性缺陷檢測(cè)電路增強(qiáng)了對(duì)皺紋高質量、薄膜裂紋也逐步提升、毛發(fā)、絨毛等的檢測(cè)智能設備。
  此外不可缺少，光缺陷檢測(cè)電路增強(qiáng)了對(duì)大面積光斑和不均勻光斑的檢測(cè)。

應(yīng)用領(lǐng)域

• 應(yīng)用
  薄膜特點、片材積極回應、無(wú)紡布、金屬又進了一步、各種涂膜等多種場景。

• 適配機(jī)
  貼膜、制片機(jī)等

缺陷顯示示例

凝膠

皺紋

水平皺紋

異物

電影片