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故障測(cè)試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測(cè)試儀分析

發(fā)布時(shí)間:2022-07-11 點(diǎn)擊量:861

故障測(cè)試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測(cè)試儀

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使用 TLP(傳輸線脈沖)的設(shè)備的抗擾度測(cè)試儀安全鏈。
使用ESD槍的符合IEC64000-4-2的設(shè)備的抗擾度測(cè)試儀很常見(jiàn),但是當(dāng)它們到達(dá)LSI時(shí)預下達,它們會(huì)產(chǎn)生振動(dòng)波形能力建設,因此當(dāng)它們向正方向擺動(dòng)時(shí)會(huì)因振動(dòng)而發(fā)生故障。向負(fù)方向擺動(dòng)時(shí)無(wú)法區(qū)分故障和故障的問(wèn)題技術創新。
在該測(cè)試儀中醒悟,通過(guò)將矩形波直接施加到具有低阻抗的 LSI 的引腳上,可以區(qū)分正故障和負(fù)故障生產體系。
通過(guò)使用可選的同步單元新模式,可以很好地再現(xiàn)故障事件。
例如高質量,在 CPU 的情況下應用情況,通過(guò)在 ROM/RAM/IO 訪問(wèn)的定時(shí)施加脈沖噪聲,可以在每個(gè)定時(shí)進(jìn)行抗擾度測(cè)試落地生根。
此外占,方波易于建模作為模擬信號(hào)源,并有望作為分析工具成效與經驗。

如下圖所示更讓我明白了,將連接器插入電源或GND線,連接應(yīng)用探頭提供了有力支撐,設(shè)置應(yīng)用電壓和應(yīng)用次數(shù)飛躍。圖中,過(guò)濾器在外部積極,過(guò)濾器前面的一側(cè)在設(shè)備內(nèi)部大數據。由于本設(shè)備不具備檢測(cè) LSI 故障的功能,因此需要通過(guò)在被測(cè)設(shè)備上安裝監(jiān)視器 LED 來(lái)采取一些措施來(lái)檢測(cè)故障經驗。
使用同步單元時(shí),需要將來(lái)自LSI的同步信號(hào)輸入同步單元。

HIT-5000


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