硅片表面光潔度檢測設備-光澤度計IG-410的特點

使用近紅外線作為光源，測量光澤度為1000（鏡面反射率100%）。
這是一種便于現(xiàn)場作業(yè)的便捷類型敢於監督，只需將與顯示部分分離的測量部分放置在被攝體上即可進行測量對外開放。
無需預熱。
它非常適合需要高水平表面光澤的產(chǎn)品的質(zhì)量控制組建，例如汽車頭燈等照明用反射器用的舒心、復印機用反射器和硅晶圓。

• IG-410 能夠測量金屬等高光澤區(qū)域深入交流研討，
  是 IG 系列光澤度檢查儀的新成員模式。測量范圍為0至1000，比以前的型號大10倍集聚效應。還可以測量鏡面樣品貢獻。 

• 緊湊輕巧的設計，方便現(xiàn)場測量相互融合，
  重量僅350g選擇適用，方便攜帶。由于是一鍵式操作提單產，因此可以輕松攜帶到生產(chǎn)現(xiàn)場進行測量核心技術。
  由于采用LED作為光源，因此無需擔心光源的壽命設計。
  

• 可通過在 2 個量程之間切換來測量低光澤度創新能力。可
  在 0 至 100 和 0 至 1000 之間切換高效。每個范圍都配有自己的校準板先進的解決方案。
  IG-410 不僅可以測量高光澤金屬，還可以測量低光澤區(qū)域領域，例如金屬板上涂漆的樣品研究進展。

應用實例

• 用于檢查金屬制品的表面光潔度

• 用于檢查鋁和不銹鋼軋制板的外觀

• 用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀

• 用于檢查硅片表面光潔度
  

*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點必須平坦。