半導(dǎo)體晶片檢查中的使用示例

檢查姿勢正確

照亮廣闊的區(qū)域

更短的工作時間=更低的公用事業(yè)成本

• 照明范圍廣（最大可達φ400）規定，因此無需移動照明設(shè)備來匹配物體的尺寸。

提高質(zhì)量并減少投訴

• 由于冷卻機構(gòu)采用散熱器機構(gòu)空間載體，因此無需擔(dān)心冷卻風(fēng)扇對潔凈室造成污染高質量。

縮短工作時間、降低勞動力成本重要組成部分、應(yīng)對人口老齡化

• 如果僅照亮身體的一部分流程，則患者在觀察時必須改變其位置，這會導(dǎo)致長時間檢查時的疲勞勃勃生機。

• 如果照射面積不夠助力各業，則需要觀察技術(shù)，但如果照射整個表面提供有力支撐，則不需要任何技能應用，任何人都可以以同樣的方式觀察。

實施后效果測量結(jié)果

檢查時間減少25%品率！返工和不良品的響應(yīng)時間已減少到幾乎為0相貫通！

規(guī)格

L-FRONT規(guī)格

特性數(shù)據(jù)

L-FRONT特性數(shù)據(jù)