結(jié)合各種識別工具更高效，測量分析各類顆粒物

通過讀取SEM、TEM等拍攝的圖像并識別目標顆粒重要部署，自動計算粒徑分布并將顆粒形狀數(shù)字化具體而言。
通過使用手寫板的手動分析工具，可以輕松識別形狀復(fù)雜的顆粒和團聚顆粒智慧與合力。

Mac-View Version.5 中的新功能和改進

?在粒子獲取模式中添加了“針狀"

Mac-View Version.5 的特點

■凝集粒子的一次粒徑分析

現(xiàn)在可以評估聚集顆粒的初級粒徑喜愛，這在以前是很困難的。

■納米粒子的評價

只要尺度信息可用開放要求，無論顆粒大小如何向好態勢，都可以進行分析。

■多邊分析評估

可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓形度服務機製、長徑比等）貢獻力量。此外，可以獲得豐富的數(shù)據(jù)大幅拓展，從而可以評估聚集顆粒的初級顆粒去創新。

■操作方便

它不需要任何特殊知識，并且易于操作重要性，因此不需要操作人員任何技能水平又進了一步。

■無需昂貴的資金投入

只要您準備好圖像（jpeg多種場景、位圖）多元化服務體系，在 PC 上安裝軟件后即可立即使用。

應(yīng)用實例

納米粒子擴大公共數據、凝聚粒子深度、顆粒、燒結(jié)體截面核心技術體系、乳液粒徑等

支持軟件

■綜合粉末分析軟件Mac-PIAS

Mac-PIAS是綜合性粉末分析軟件的新維度開拓創新，可以集中管理和分析使用各種方法測量的“粒度分布數(shù)據(jù)"。

■篩分試驗數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh

Macmesh 是一種工具必然趨勢，可以消除數(shù)據(jù)密集型篩分測試中的人為錯誤促進善治，并提高測試效率擴大。