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日本Shinkuu(真空)磁控離子濺射儀廣泛應(yīng)用于電子顯微鏡(SEM/TEM)樣品制備、半導(dǎo)體檢測(cè)及材料研究領(lǐng)域結論。其產(chǎn)品線覆蓋從便攜式小型設(shè)備到工業(yè)級(jí)大面積鍍膜系統(tǒng)和諧共生,具有高精度、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)勢(shì)適應性強,但也存在一些局限性技術交流。以下為詳細(xì)分析:
靶材多樣性:支持Au創造更多、Pt、Ag相關、W大力發展、Ti等多種金屬靶材,滿足不同倍率觀察需求生產效率。
低倍率(10,000倍以下):Au靶提供良好的導(dǎo)電性和對(duì)比度產能提升。
高倍率(100,000倍以上):W靶和Pt靶可提供更細(xì)的顆粒度,適用于納米級(jí)觀察節點。
均勻成膜:磁控濺射技術(shù)確保金屬薄膜均勻沉積通過活化,減少樣品充電效應(yīng)落地生根,提高SEM/TEM成像質(zhì)量。
一鍵式操作(如MSP-mini建設項目、MSP-1S),無(wú)需復(fù)雜設(shè)置落實落細,適合快速樣品預(yù)處理相結合。
全自動(dòng)鍍膜(如MSP-20UM、MSP-40T)製高點項目,可編程參數(shù)為產業發展,提高實(shí)驗(yàn)重復(fù)性。
小型實(shí)驗(yàn)室設(shè)備(MSP-mini各項要求、MSP-1S):體積小,適合桌面SEM預(yù)處理越來越重要的位置。
多功能研究型設(shè)備(MSP-20系列):支持樣品旋轉(zhuǎn)新技術、傾斜鍍膜,適用于復(fù)雜結(jié)構(gòu)樣品順滑地配合。
工業(yè)級(jí)晶圓鍍膜(MSP-200in深入、MSP-300in):支持8英寸和12英寸晶圓,提高半導(dǎo)體檢測(cè)效率前沿技術。
采用磁控濺射技術(shù),基板溫度低多種方式,適用于熱敏感材料(如塑料對外開放、生物樣品)。
部分型號(hào)(如MSP-20TK)采用風(fēng)冷磁控靶深入交流研討,防止靶材過(guò)熱影響樣品資料。
高型號(hào)(如MSP-40T)配備渦輪分子泵,實(shí)現(xiàn)高真空環(huán)境積極拓展新的領域,提高薄膜純度配套設備。
進(jìn)口設(shè)備價(jià)格較貴相對開放,高性能型號(hào)(MSP-40T)更昂貴。
需使用高純度靶材(如99.99% Pt脫穎而出、Au)拓展應用,否則可能影響鍍膜質(zhì)量。
需在高真空環(huán)境下運(yùn)行結構,對(duì)實(shí)驗(yàn)室條件(潔凈度管理、穩(wěn)定性)要求較高優化上下。
磁控濺射的靶材侵蝕不均勻,導(dǎo)致部分靶材浪費(fèi)模樣,增加長(zhǎng)期使用成本生產體系。
小型設(shè)備(如MSP-mini):僅支持φ30mm樣品,不適用于大尺寸樣品很重要。
晶圓鍍膜設(shè)備(MSP-200in/300in):僅適用于半導(dǎo)體行業(yè)能力和水平,通用性較低。
需定期更換泵油異常狀況、清理真空腔體研究,維護(hù)成本較高。
| 需求場(chǎng)景 | 推薦型號(hào) | 優(yōu)勢(shì) | 局限性 |
|---|---|---|---|
| 實(shí)驗(yàn)室常規(guī)SEM鍍膜 | MSP-1S | 操作簡(jiǎn)單提高,內(nèi)置泵,性價(jià)比高 | 靶材選擇有限 |
| 高分辨率觀察(100,000倍+) | MSP-20TK(W靶) | 超細(xì)顆粒的特性,適合納米材料 | 設(shè)備成本高 |
| 半導(dǎo)體晶圓鍍膜 | MSP-200in(8英寸) | 支持大面積鍍膜交流,提高效率 | 僅適用于半導(dǎo)體行業(yè) |
| 多材料研究 | MSP-40T | 支持多種金屬,高真空穩(wěn)定 | 價(jià)格昂貴 |
結(jié)論:Shinkuu磁控濺射儀在鍍膜均勻性提供堅實支撐、操作便捷性及型號(hào)多樣性方面表現(xiàn)優(yōu)異還不大,但成本較高,且對(duì)使用環(huán)境有一定要求簡單化。