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在工業(yè)檢測領(lǐng)域更合理,光源的選擇直接影響檢測效率和精度。日本山田光學(xué)的YP-150I和Sena的185LE均采用鹵素?zé)艏夹g(shù)更優美,但在設(shè)計理念和應(yīng)用場景上存在顯著差異各方面。本文將從照度、照射距離合作關系、熱管理著力提升、適用行業(yè)等維度進行對比,幫助用戶根據(jù)需求選擇優(yōu)方案傳遞。
參數(shù) | 山田光學(xué) YP-150I | Sena 185LE |
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照度 | 400,000Lx(30mmφ) | 400,000Lx(55mmφ) |
照射距離 | 140mm(短距離聚焦) | 310mm(長距離適用) |
光束直徑 | 30-50mm(可調(diào)) | 55mm(固定) |
光源類型 | 150W 鹵素?zé)簦ɡ溏R技術(shù)) | 185W 鹵素?zé)簦◤娭瓶绽洌?/span> |
燈泡壽命 | 50小時 | 未明確(類似鹵素?zé)魤勖?/span> |
冷卻方式 | 強制風(fēng)冷 | 強制空冷 |
調(diào)光方式 | 兩級調(diào)光(高/低) | 20%-100% 無級調(diào)光 |
適用行業(yè) | 半導(dǎo)體、玻璃深入闡釋、精密檢測 | TFT面板相關性、觸摸屏、晶圓檢測 |
YP-150I:短距離超高照度物聯與互聯,適合微米級缺陷檢測
照射距離僅 140mm穩定,但能在 30mm直徑 范圍內(nèi)提供 400,000Lx 超高照度,適合檢測 <0.2μm 的劃痕供給、異物等微小缺陷優勢與挑戰。
冷鏡技術(shù)減少熱影響,適用于溫度敏感材料(如半導(dǎo)體晶圓深入各系統、光學(xué)玻璃)解決問題。
185LE:長距離大范圍照明,適合產(chǎn)線自動化檢測
照射距離 310mm作用,光束直徑 55mm相互配合,適合大尺寸面板(如TFT、觸摸屏)的均勻照明著力增加。
無級調(diào)光(20%-100%)適應(yīng)不同反光率材料智能化,適用于印刷品、濾光片等色彩敏感檢測處理。
YP-150I:冷鏡技術(shù) + 強制風(fēng)冷建設,熱影響降低2/3
采用冷反射鏡在此基礎上,相比傳統(tǒng)鋁鏡,熱輻射減少 66%前來體驗,適合長時間檢測熱敏感樣品自主研發。
但燈泡壽命僅50小時,需頻繁更換建議,維護成本較高品率。
185LE:強制空冷 + 寬電壓適配,適合連續(xù)作業(yè)
支持 AC 95V-260V 全球電壓不斷發展,適用于不同地區(qū)的生產(chǎn)線積極影響。
散熱系統(tǒng)穩(wěn)定,但鹵素?zé)舭l(fā)熱仍可能影響精密電子元件緊密協作。
行業(yè) | YP-150I 優(yōu)勢 | 185LE 優(yōu)勢 |
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半導(dǎo)體晶圓 | ? 超高照度越來越重要,檢測0.2μm缺陷 | ? 發(fā)熱可能影響晶圓穩(wěn)定性 |
TFT/觸摸屏 | ? 光束范圍較小 | ? 55mm均勻照明,減少眩光 |
金屬加工 | ? 高亮度檢測焊接發揮重要作用、劃痕 | ? 無級調(diào)光適應(yīng)不同反光率材料 |
光學(xué)鏡片 | ? 冷鏡減少熱畸變 | ? 鹵素?zé)艨赡苡绊戠R片精度 |
? 需要檢測 <0.2μm 的超微缺陷(如半導(dǎo)體晶圓、精密光學(xué)元件)
? 檢測環(huán)境對熱敏感(冷鏡技術(shù)減少熱影響)
? 檢測區(qū)域較懈哔|量。?0mm直徑內(nèi)超高亮度)
? 需要長距離(310mm)、大范圍(55mm) 均勻照明(如TFT面板檢測)
? 產(chǎn)線需無級調(diào)光適應(yīng)不同材料(如印刷品註入了新的力量、濾光片質(zhì)檢)
? 設(shè)備需全球電壓兼容(AC 95V-260V)
YP-150I 是“高精度檢測專家"重要的作用,適合超精密缺陷分析,但燈泡壽命短去創新,維護成本高反應能力。
185LE 是“長距離多面手",適合自動化產(chǎn)線學習,但鹵素?zé)舭l(fā)熱可能影響部分敏感材料結構重塑。
若預(yù)算允許,可搭配使用:YP-150I 用于實驗室精密檢測應用優勢,185LE 用于產(chǎn)線快速篩查高質量發展,以實現(xiàn)優(yōu)檢測效率。