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在半導體延伸、光學薄膜、新材料研發(fā)等高精度制造領域有效保障,材料的厚度往往決定著產(chǎn)品的性能與命運大數據。當測量精度進入微米乃至納米級別,您是否仍在為數(shù)據(jù)的準確性講實踐、操作的穩(wěn)定性以及設備的可靠性而困擾數字技術?
富士工機HKT-Master 0.01AA超薄膜測厚儀,一款專為挑戰(zhàn)極限精度而打造的專業(yè)儀器市場開拓,旨在為您提供無可挑剔的測量解決方案措施,成為您品質(zhì)控制與前沿研發(fā)中值得信賴的伙伴。
我們深知緊密相關,在超薄膜測量中,每一個微小的數(shù)字都舉足輕重先進技術。HKT-Master 0.01AA集成了富士工機的工藝與創(chuàng)新技術(shù)培訓,為您帶來以下核心優(yōu)勢:
?? 精度,洞察入微
0.01μm(10納米)的超高分辨率宣講手段,讓超薄膜材料的微小厚度變化無處遁形重要工具。無論是監(jiān)測靜電卡盤的細微磨損,還是測量關鍵的光學鍍膜基礎,它都能提供足以讓您信賴的精準數(shù)據(jù)性能。
?? 恒定壓力,穩(wěn)定如一
摒棄傳統(tǒng)測厚儀因人為施力不均帶來的誤差對外開放。HKT-Master 0.01AA采用恒定的0.14N測量壓力與測量頭向下恒定設計技術創新,確保每一次測量都在相同的條件下進行,數(shù)據(jù)重復性高資料,不同操作者也能獲得一致結(jié)果廣泛應用。
?? 匠心選材,經(jīng)久耐用
核心測頭采用R30碳化物(碳化鎢)球形測頭橫向協同,這種超硬耐磨材料能有效抵抗長期使用帶來的磨損哪些領域,極大延長了設備壽命,并保證了長期測量精度不衰減不斷創新,為您節(jié)省長期成本建立和完善。
?? 人性設計,高效便捷
融合人體工學設計,長時間操作也不易疲勞大型。支持數(shù)據(jù)導出功能基石之一,便于您進行質(zhì)量追溯、統(tǒng)計分析及報告生成增持能力,無縫對接您的質(zhì)量管理體系共同努力。
HKT-Master 0.01AA不僅是測量工具,更是推動產(chǎn)業(yè)升級的關鍵力量追求卓越。
半導體行業(yè):精準測量靜電卡盤(ESC)磨損厚度逐漸完善,實現(xiàn)預測性維護,避免非計劃停機合理需求,保障晶圓生產(chǎn)的連續(xù)性與穩(wěn)定性是目前主流。
光學與電子行業(yè):用于各類光學鏡頭、濾光片高效、顯示屏及觸摸屏等功能性薄膜的厚度質(zhì)量控制應用創新。
材料科研:為新材料的研發(fā)提供精準提高、可靠的超薄膜厚度數(shù)據(jù)支撐機構,加速研發(fā)進程。
富士工機HKT-Master 0.01AA以其性能交流,已經(jīng)成為半導體設備維護基礎、超薄材料研發(fā)及任何對厚度測量有嚴苛要求場景下的設備。它代表的不僅是一臺儀器還不大,更是一種對品質(zhì)追求的態(tài)度高產。
如果您的測量需求在0.1μm級別,且更看重便攜性與無線操作發揮作用,不妨也了解一下我們同系列的HKT-Lite 0.1型號良好,它或許是您更具性價比的優(yōu)質(zhì)之選。