日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測(cè)儀

產(chǎn)品型號(hào)： PVE-80

所屬分類：其他設(shè)備

產(chǎn)品時(shí)間：2025-08-02

簡(jiǎn)要描述：日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測(cè)儀PVE-80
一種非接觸式電阻測(cè)量系統(tǒng)提高，使用脈沖電壓激勵(lì)方法作為測(cè)量原理高效，可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測(cè)量首要任務。

詳細(xì)說(shuō)明：

日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測(cè)儀PVE-80

一種非接觸式電阻測(cè)量系統(tǒng)新品技，使用脈沖電壓激勵(lì)方法作為測(cè)量原理高質量，可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測(cè)量流動性。
節(jié)省空間的設(shè)計(jì)主體外殼，便攜式可移動(dòng)臺(tái)
通過(guò)PC（軟件）進(jìn)行簡(jiǎn)單的測(cè)量操作重要方式，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和管理
測(cè)量顯示單元可以根據(jù)應(yīng)用（薄層電阻開展面對面，電導(dǎo)率，電導(dǎo)率）進(jìn)行更改
*本產(chǎn)品使用由我公司與千葉大學(xué)聯(lián)合開(kāi)發(fā)的脈沖電壓激勵(lì)方法（專li號(hào)5386394）無障礙。

測(cè)量目標(biāo)

與新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管連日來，DLC，石墨烯認為，銀納米線等）與
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬系統，ITO等）
與化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi，GaN Epi重要意義，InP交流等，Ga等）
其他（*查詢）請(qǐng)給我）

測(cè)量尺寸

?A4尺寸（W300 x D210mm）

測(cè)量范圍

50μ?1mΩ/平方

15270896115