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用于低磁導(dǎo)率材料加工后的微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)技術(shù)
檢查低磁導(dǎo)率材料加工后的微觀結(jié)構(gòu)變化將進一步。
(1) 可以在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確測(cè)量低磁導(dǎo)率的材料。
(2) 材料質(zhì)量控制可以很容易地進(jìn)行提供有力支撐。
(3) 可以進(jìn)行混合不同材料的試驗(yàn)實際需求。
| 測(cè)量范圍 | 1.001-4 | ||
| 測(cè)量范圍 | 1.03·1.1·1.3·2.0·4.0（5個(gè)范圍） | ||
| 準(zhǔn)確性 | ± 3% 范圍 | ||
| 校準(zhǔn)方法 | 附標(biāo)準(zhǔn)試片 | ||
| 輸出 | DC 1V / FS（但是，當(dāng)設(shè)置范圍 1 時(shí)） | ||
| 電源 | AC100V ± 10% 50 / 60Hz 約 50VA | ||
| 外形尺寸（mm）/質(zhì)量 | 260W x 162H x 310D（包括突起）約4kg | ||
