光學(xué)非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀IDM案例分析

主要測量實例：
環(huán)規(guī)銘記囑托、剪刀規(guī)事關全面、軸承、模具製造業、光纖連接器發展目標奮鬥、注塑件等。

測量示例
IDM 可以在任何高度和厚度的位置測量內(nèi)徑狀態。

測量應(yīng)用示例
不僅可以測量環(huán)規(guī)測量規劃，還可以測量孔距、垂直度和錐度初步建立。也可以適用于方孔和狹縫項目，
外徑和外寬可以用同樣的方法測量，因此可以用于內(nèi)外徑的同軸度等各種用途重要方式。

-我們有向主要汽車相關(guān)制造商綜合運用、電氣制造商和儀表制造商等各個行業(yè)供貨的記錄。
-已被JQA和JBI等公共機構(gòu)使用增產。

特征

-測量范圍最小為 φ0.1 毫米脫穎而出，最大為 Φ100 毫米。
? 分辨率 0.01 μm（選項）
? .非接觸式測量不會損壞工件的方法。
- 易于對齊積極影響，無需測量技能。
-配備溫度補償系統(tǒng)資料，自動轉(zhuǎn)換為20°C時的測量值。