F20膜厚測(cè)量系統(tǒng)工作原理分析

這是一種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)重要部署、低成本、多功能桌面涂層厚度測(cè)量系統(tǒng)產業，已安裝在全球 5,000 多個(gè)裝置中數字技術。它可用于廣泛的應(yīng)用，從研究和開(kāi)發(fā)到制造現(xiàn)場(chǎng)的在線測(cè)量工具。
F20基于光學(xué)干涉法尤為突出，可以在約1秒內(nèi)輕松測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度、折射率和消光系數(shù)市場開拓。
它還支持多點(diǎn)在線測(cè)量標準，并支持RS-232C和TCP/IP等外部通信，因此也可以從PLC或主機(jī)進(jìn)行控制穩定。

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部份的光被反射機製性梗阻，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生振蕩的現(xiàn)象廣泛關註。從光譜的震蕩頻率改造層面，愈多的震蕩代表較大的厚度。而其他的材料特性如折射率與粗糙度也也能同時(shí)測(cè)量各項要求。

主要用途

基本應(yīng)用:

基本上所有光滑的各領域、半透明或低吸收系數(shù)薄膜都可以測(cè)量顯示。這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料，例如：