您好責任,歡迎來到秋山科技(東莞)有限公司提單產!
產(chǎn)品型號:
所屬分類:光源
產(chǎn)品時間:2024-09-07
簡要描述:日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)通過結(jié)合可變波長光源(TSL系列)重要的作用,功率計(jì)(MPM)極致用戶體驗,偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件堅定不移,在研發(fā)和生產(chǎn)線上對IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測量和評估你能行的深刻變革。
日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)
掃頻測試系統(tǒng)
通過結(jié)合可變波長光源(TSL系列)智能化,功率計(jì)(MPM)在此基礎上,偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件建強保護,在研發(fā)和生產(chǎn)線上對IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測量和評估你能行的更讓我明白了。
多站測量
通過將掃頻測試系統(tǒng)與多分支單元相結(jié)合,可以進(jìn)一步提高檢查和評估的效率表示。
總覽
掃頻測試系統(tǒng)結(jié)合了可變波長光源(TSL系列)不久前,多端口功率計(jì)(MPM系列),偏振控制單元(PCU-100)和軟件質生產力,是光學(xué)設(shè)備和生產(chǎn)現(xiàn)場研發(fā)的理想選擇機構。這是一個評估工具。通過實(shí)時參考可變波長光源的輸出功率同時獲取通過DUT傳輸?shù)墓夤β适袌鲩_拓,可以高精度地測量IL / WDL / PDL研究成果。該系統(tǒng)使用穆勒矩陣方法來計(jì)算PDL。
特性
WDL(與波長有關(guān)的損耗)測量
80 dB或更高的高動態(tài)范圍測量
我們的可變波長光源TSL系列配備了具有創(chuàng)新設(shè)計(jì)的諧振器穩定,可減少ASE光學(xué)噪聲機製性梗阻,同時實(shí)現(xiàn)很高的信噪比和很高的光學(xué)輸出功率。因此廣泛關註,該系統(tǒng)可以同時評估具有高動態(tài)范圍特性的光學(xué)組件的多個端口的特性改造層面。
下圖分別顯示了CWDM濾波器和陷波濾波器(例如FBG)的測量數(shù)據(jù)。
波長精度高+/- 3 pm
由于TSL系列標(biāo)配了波長監(jiān)視器各項要求,因此可以高精度地測量光學(xué)組件大面積。
下圖顯示了乙炔(12C2H2)氣體吸收線的測量波長發力,可以看出以*的測量精度可以進(jìn)行測量。
波長分辨率低于0.1 pm
該系統(tǒng)不僅可以用于WDM的光學(xué)組件集成應用,而且可以用于窄線寬濾光片越來越重要的位置,以高波長分辨率測量WDL和PDL。
該圖是超高Q容量設(shè)備的測量結(jié)果迎來新的篇章,您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率進(jìn)行測量解決方案。
運(yùn)用
配置示例
1. PDL(極化相關(guān)損耗)測量
2. WDL(波長相關(guān)損耗)測量 ??
3. WDL(波長相關(guān)損耗)測量(其他公司的功率計(jì))
日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)
多站點(diǎn)檢測
在多站測量系統(tǒng)中,可變波長光源效高,偏振控制器和多分支單元用作服務(wù)器相對較高,并且光和觸發(fā)信號從它們分支并發(fā)送到每個站。每個站僅包含一個功率計(jì)和一臺PC發展需要。
在測量期間,服務(wù)器的可變波長光源連續(xù)掃描預(yù)定范圍全方位。因此信息,每個站可以隨時獨(dú)立于其他站進(jìn)行測量。
這樣不容忽視,該系統(tǒng)可以在保持高精度特性的同時進(jìn)一步提高檢查和評估的效率習慣。