日本advance2ω法納米薄膜熱導(dǎo)儀TCN-2ω

產(chǎn)品型號：

所屬分類：熱導(dǎo)率

產(chǎn)品時間：2025-08-05

簡要描述：日本advance2ω法納米薄膜熱導(dǎo)儀TCN-2ω
該設(shè)備是世界上唯yi使用2ω方法測量納米薄膜在厚度方向上的導(dǎo)熱率的商用設(shè)備分析。與其他方法相比核心技術，樣品的生產(chǎn)和測量更加容易各方面。

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日本advance2ω法納米薄膜熱導(dǎo)儀TCN-2ω

該設(shè)備是世界上唯yi使用2ω方法測量納米薄膜在厚度方向上的導(dǎo)熱率的商用設(shè)備兩個角度入手。與其他方法相比提供有力支撐，樣品的生產(chǎn)和測量更加容易深入交流。

使用

• 量化低K絕緣膜的熱阻，以用于半導(dǎo)體器件的熱設(shè)計
• 絕緣膜的開發(fā)和散熱的改善
• 在熱電薄膜中的應(yīng)用評價

特征

• 可以測量在基板上形成的20至1000nm的薄膜的厚度方向上的熱導(dǎo)率科技實力。
• 使用熱反射法通過溫度幅度檢測實現(xiàn)測量
• 易于預(yù)處理的測量樣品

日本advance2ω法納米薄膜熱導(dǎo)儀TCN-2ω

規(guī)格

測量原理

關(guān)于“在絕熱邊界條件下通過2ω法評估薄片樣品的導(dǎo)熱系數(shù)”的論文

當(dāng)金屬薄膜以f / Hz的頻率加熱時處理，加熱量變化為2f / Hz。
在充分散熱的條件下在此基礎上，金屬薄膜（0）–薄膜（1）–基板（s）的三層系統(tǒng)中金屬薄膜表面的溫度變化T（0）是一維的穿過金屬薄膜/薄膜助力各行，以下公式用于表示傳熱模型的解析解。

（Λ：導(dǎo)熱率W m ^-1 K ^-1自主研發，C：體積比熱容JK ^-1 m ^-3確定性，q：每體積的熱量W m ^-3，d：厚度m損耗，ω：角頻率（=2πf） / s ^-1）

由于實數(shù)解（同相振幅）包含薄膜的信息講故事，因此在相同條件下以不同頻率進行測量時，同相振幅與（2ω）^-0.5成比例性能穩定。
的熱導(dǎo)率λ ₁所述的薄膜是通過以下公式獲得全面革新。
（M：斜率作用，n：截距）

Si基板上的SiO ₂薄膜（20-100 nm）的示例