日本stil線掃描光譜共焦傳感器MPLS-DM

產(chǎn)品型號：

所屬分類：傳感器

產(chǎn)品時間：2025-08-02

簡要描述：日本stil線掃描光譜共焦傳感器MPLS-DM
有兩束光纖效高性，光學頭連接到光電控制器。
各種光學頭由不同測量范圍取得顯著成效、軸向分辨率和景深來定義約定管轄。

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日本stil線掃描光譜共焦傳感器MPLS-DM

技術特點

• 有兩束光纖數據，光學頭連接到光電控制器。
• 各種光學頭由不同測量范圍發揮、軸向分辨率和景深來定義顯著。
• 連接到MPLS-DM的光學頭可獨立進行輪廓測量，無需任何外部轉換開放以來。
• 3D測量可以通過傳輸表或生產(chǎn)線獲得占。
• MPLS-DM提供每秒360 000個測量點的非常高的測量速率，每秒2000行提供了有力支撐。每條線由180個離散點組成動手能力。
• 此性能是高水平技術集成，結合STIL經(jīng)驗知識和先進制造工藝優(yōu)化的結果意見征詢。
• MPLS-DM傳感器提供即時測量配置文件提升，每個配置文件包括180個同時采集的點。

優(yōu)勢

MPLS-DM控制器 ?

l 市場上第yi臺“線”光譜共聚焦傳感器的必然要求。

l 投射到樣品表面為一條線研究成果，由180個離散點組成，每點對應一條獨立測量通道完善好。

l 大線率是2000 lines/秒大面積。

l 高工作量（360000點/秒）

l 由千兆以太網(wǎng)進行數(shù)據(jù)傳輸

l 高分辨率積極參與，高精度

l 可測量任何材料

l 對外部環(huán)境光線不敏感

l 兼容所有光學頭

l 同步方式：主和從

l 借助DLL工具，易于管理

參數(shù)

日本stil線掃描光譜共焦傳感器MPLS-DM

技術特點

• 有兩束光纖培養，光學頭連接到光電控制器交流研討。
• 各種光學頭由不同測量范圍、軸向分辨率和景深來定義方案。
• 連接到MPLS-DM的光學頭可獨立進行輪廓測量應用的選擇，無需任何外部轉換。
• 3D測量可以通過傳輸表或生產(chǎn)線獲得左右。
• MPLS-DM提供每秒360 000個測量點的非常高的測量速率背景下，每秒2000行。每條線由180個離散點組成可靠保障。
• 此性能是高水平技術集成自然條件，結合STIL經(jīng)驗知識和先進制造工藝優(yōu)化的結果。
• MPLS-DM傳感器提供即時測量配置文件開展，每個配置文件包括180個同時采集的點互動互補。