日本stil線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)MC2

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產(chǎn)品時(shí)間：2025-08-02

簡(jiǎn)要描述：日本stil線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)MC2
MC2線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)完美地解決了傳統(tǒng)機(jī)器視覺在表面瑕疵檢測(cè)的痛點(diǎn)，具有明顯的優(yōu)勢(shì)：
v 無需外接光源照明可能性更大，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源部署安排；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)技術；

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日本stil線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)MC2

MC2線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)完美地解決了傳統(tǒng)機(jī)器視覺在表面瑕疵檢測(cè)的痛點(diǎn)推廣開來，具有明顯的優(yōu)勢(shì)：

v 無需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源相對較高；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果資源配置，適應(yīng)性強(qiáng)；
v 適應(yīng)所有的物體表面，無論是漫反射表面大力發展，鏡面（高光面）或者透明物體表面首要任務； 
v 高達(dá)80KHz的掃描速度，并可實(shí)現(xiàn)非常低的像素尺寸(小像素可達(dá)0.2×0.2μm2)更加完善；
v gao可至2.6mm的高景深形式，在景深范圍內(nèi)的任何一個(gè)位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無需進(jìn)行Z軸對(duì)焦支撐作用。

優(yōu)勢(shì)：
v 無需外接光源照明日漸深入，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
v 環(huán)境光線的變化不影響成像效果同時，適應(yīng)性強(qiáng)互動式宣講；
v 適應(yīng)所有的物體表面，無論是漫反射表面模式，鏡面（高光面）或者透明物體表面自動化； 
v 高達(dá)80KHz的掃描速度，并可實(shí)現(xiàn)非常低的像素尺寸(小像素可達(dá)0.2×0.2μm2)高品質；
v gao可至2.6mm的高景深不折不扣，在景深范圍內(nèi)的任何一個(gè)位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無需進(jìn)行Z軸對(duì)焦資源優勢。

日本stil線陣視覺檢測(cè)系統(tǒng)MC2