日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測設(shè)備
產(chǎn)品型號：
所屬分類：物理性能檢測儀
產(chǎn)品時間：2025-08-04
簡要描述：日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測設(shè)備可以高速且高精度地檢查在晶片工藝和切割工藝中出現(xiàn)的外觀缺陷充分發揮。可以檢查各種圖案的芯片深度。對于每種產(chǎn)品類型發揮作用，可以使用可變的圖像分辨率（1.5至5 µ）進行檢查高效化。
詳細說明：
日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測設(shè)備
晶圓或切塊后高速檢查芯片外觀
- 可以高速且高精度地檢查在晶片工藝和切割工藝中出現(xiàn)的外觀缺陷深入。
- 可以檢查各種圖案的芯片。
- 對于每種產(chǎn)品類型關註度，可以使用可變的圖像分辨率（1.5至5 µ）進行檢查橫向協同。
- 可以使用嵌入式顯微鏡以亞微米分辨率進行檢查。（選項）
- 可以根據(jù)圖像特征的復雜條件對缺陷進行分類相對開放。
- 一次可以使用多種配方（不同的圖像分辨率推進高水平，照明，判斷程序）進行檢查拓展應用。
- 配備由自動裝載機連續(xù)提供的高速NG排屑機構(gòu)。
- 即使厚度公差為150 µm的工件也可以檢查并消除結構。（具有高速高度測量和高度校正功能）
- 有一個檢查功能管理，用于排除所有錯誤和標記錯誤。（選項）
- 可以通過紙張進行背面檢查能力建設。（選項）
- NG標記（墨/激光標記）模樣，條形碼可以自動讀取。（選項）
- 還有HS-256G服務，它是一種低價類型很重要，沒有自動裝帶器或排除機制。
檢查對象
- 半導體芯片覆蓋，例如LED芯片和激光芯片（芯片尺寸：100 µm?異常狀況，與各種圖案兼容）
- 晶圓尺寸：2到8英寸（在大210毫米的檢查范圍內(nèi)）
- 兼容各種戒指和錄音帶
檢查項目
劃片不良（寬度/碎裂）?電極尺寸（突出/碎裂/多余
/不足的區(qū)域） ·電極劃痕/污垢·變色·各個部分劃痕/污垢
日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測設(shè)備
特點
- 由于工件在XY工作臺上移動并且在一個視場中檢查了多個切屑研究，因此可以執(zhí)行有效的檢查。
- 檢查判斷使用二進制特征（長度應用創新，面積提高，周長，凸度的特性，蓬松度等）和灰色特征（每個通道的亮度交流，偏差，范圍等）提供堅實支撐，并使用多個條件表達式對缺陷項進行分類還不大。
- 與用于分類器的MAP文件一起，輸出顯示每個缺陷項目的判斷結(jié)果的文件信息化技術。
- 您可以在檢查時保存圖像力度。
處理能力
- 目視檢查時間：分辨率為2.5 µ /配方時（使用2英寸晶圓時）約為1.5到4分鐘
- 消除時間：3到6芯片/秒（取決于芯片尺寸，紙張類型和條件等條件）
- 標記時間：墨輪打碼時間為3-4芯片/秒系統性，
激光打標機為10芯片/秒（某些芯片不適用于激光打標機）
