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          產(chǎn)品型號: F10-RT
所屬分類:測厚儀
產(chǎn)品時間:2025-08-06
簡要描述:日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RTF10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)創新內容。可同時測量反射率和透射率發揮重要作用,并可輕松分析膜厚醒悟、折射率和消光系數(shù)。只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接高質量,無需調(diào)整光學系統(tǒng)也逐步提升,無需復雜的設置,而且設置非常簡單註入了新的力量。
日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT

集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)
光譜范圍廣要素配置改革,可選擇多種光源
反射率和透射率同時測量,膜厚保障性、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標準維護時間記錄的相機測量位置
放個樣品就行了帶動產業發展。無需調(diào)整光學系統(tǒng),設置非常簡單
| 平板 | 聚酰亞胺新創新即將到來、ITO邁出了重要的一步、抗蝕劑、氧化膜創造性、抗反射涂層發展的關鍵、PET和玻璃基板上的各種光學膜 | 
|---|---|
| 光學鍍膜 | 玻璃、眼鏡規模設備、鏡片等的硬質(zhì)涂層。 | 
| 薄膜太陽能電池 | CdTe指導、CIGS競爭力、非晶硅等 | 
| 模型 | F10-RT -紫外線 | F10-RT | F10-RT -近紅外 | F10-RT -近紅外 | F10-RT -UVX | 
|---|---|---|---|---|---|
| 測量波長 范圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm | 380 – 1050nm | 380 – 1050nm | 
| 膜厚測量 范圍 | 1nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 150μm | 15nm – 150μm | 1nm – 150μm | 
| 準確性 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ||
| 1納米 | 2納米 | 3納米 | 2納米 | 1納米 | |
| 光源 | 氘· 鹵素 | 鹵素 | 氘· 鹵素 | ||
平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測定例
同時測定反射率和透射率充分。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時分析薄膜厚度、折射率等集聚。

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