自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)： F50

所屬分類：測(cè)厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2025-08-06

簡(jiǎn)要描述：日本filmetrics自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F50
F50自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能與自動(dòng)高速載物臺(tái)相結(jié)合的系統(tǒng)規劃。
以過去無法想象的速度測(cè)量點(diǎn)的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板完成的事情，并且可以任何測(cè)量點(diǎn)物聯與互聯。

聯(lián)系我們在線咨詢

詳細(xì)說明：

日本filmetrics自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F50

F50自動(dòng)測(cè)繪膜厚測(cè)量系統(tǒng)是將基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能與自動(dòng)高速載物臺(tái)相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測(cè)量點(diǎn)的膜厚和折射率改造層面。它支持從2英寸到450毫米的硅基板供給，并且可以任何測(cè)量點(diǎn)。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品經驗分享。

主要特點(diǎn)

結(jié)合基于光學(xué)干涉原理的膜厚測(cè)量功能和自動(dòng)高速載物臺(tái)的系統(tǒng)
以過去無法想象的速度測(cè)量點(diǎn)的膜厚和折射率
兼容2英寸至450毫米的硅基板解決方案，可任何測(cè)量點(diǎn)

日本filmetrics自動(dòng)膜厚測(cè)量系統(tǒng)F50

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體	抗蝕劑、氧化膜不難發現、氮化膜、非晶/多晶硅設備製造、拋光硅片發展需要、化合物半導(dǎo)體襯底、?T襯底等管理。
平板	單元間隙顯示、聚酰亞胺雙向互動、ITO、AR膜設計能力、各種光學(xué)膜等品牌。
薄膜太陽能電池	CdTe、CIGS更為一致、非晶硅等
引	砷化鋁鎵（AlGaAs）等形式、磷化鎵（GaP）等